在現(xiàn)場開展原位X熒光光譜儀測量，由于儀器的探測器采用中心源幾何結(jié)構(gòu)，被探測窗所覆蓋的探測面積有限，僅為18.1 cm^2，因此測點(diǎn)密度的選擇對異常體的測量效果有較大影響，測點(diǎn)過密雖測量效果好，但工作量過大，測點(diǎn)過疏易漏失異常體。在野外實(shí)際應(yīng)用中，應(yīng)針對異常體規(guī)模大小和巖性的變化正確地選擇測點(diǎn)的密度。根據(jù)以往工作經(jīng)驗(yàn)，在定的測點(diǎn)密度前提下，適當(dāng)采用靈活的測點(diǎn)密度，一般遵循在異常體上方密，在正常巖性上方疏的布置

原則。

 

       土壤與基巖X射線熒光光譜測量效果的對比

       礦區(qū)基巖一般是原巖經(jīng)過不同程度的礦化蝕變作用而形成的巖石。因此基巖X熒光光譜測量實(shí)質(zhì)上是巖石原生暈的反映。土壤是由巖石風(fēng)化而成的礦物質(zhì)、動植物殘?bào)w腐解而產(chǎn)生的有機(jī)物質(zhì)以及水分（土壤溶液）、空氣（土壤孔隙中的空氣）等組成。因此土壤X熒光光譜測量實(shí)質(zhì)上是次生暈的反映。對土壤測量時(shí)盡量選擇基巖上方無植物根系的B層土壤。

 

       以上就是這次為大家?guī)淼年P(guān)于手持光譜儀在礦區(qū)檢測中的應(yīng)用相關(guān)知識。